SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫...
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