扫频光谱分析系统SSA

扫频光谱分析系统SSA

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
产品特点
  • C+L、O波段(可选)

  • 可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量

主要应用
  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器
  • 光学测量分析二次开发
参数

主要参数

损耗(IL)

测量长度

200

m

波段1

1525~1565;1290~1330

nm

波长分辨率

1.6

pm

波长精度

±1.0

pm

动态范围2

60

dB

插损精度

±0.1

dB

分辨率

±0.05

dB

扫频光源

功率3

1

mW

波长1

1525~1565;1290~1330

nm

波长精度

5

pm

扫描速度

10~100

nm/s

边模抑制比

60

dBc

消光比

15

dB

硬件

主机功率

60

W

通讯接口

USB

-

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

W345*D390*H165

mm

重量

7.5

kg

储存温度

0~50

工作温度

10~40

储存与工作湿度

10~70

%RH

备注:

1.可定制扫描范围;
2.可定制动态范围到80dB;
3.可定制高功率版本(2mW/5mW)。
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