为更好满足市场对850nm波段光器件精准测量的需求，FLA系列光纤链路分析仪正式拓展850nm测量新波段，面对多模光纤链路、850nm光器件及芯片级样品，提供更高效、更完整的检测解决方案。

FLA系列光纤链路分析仪

核心性能参数（850nm波段）

· 测量长度：500m

· 空间分辨率：2mm

· 中心波长：850nm

· 回损动态范围：70dB

· 回损重复精度：±0.5dB

· 插损动态范围：15dB

· 插损重复精度：±0.2dB

· 单次测量时间：＜15s

（注：支持定制200微米空间分辨率，测量长度50米，欢迎垂询。）

多元应用场景，覆盖产业全环节

·  光器件精准测试：可对500米内的850nm光器件进行精确的长度定位以及插损、回损一体化测试，为器件性能评估提供可靠数据。

·  分布式链路诊断与失效分析：能够对整条850nm多模光纤链路进行分布式测量，快速定位并分析连接点、断裂点、弯曲损耗等故障或性能劣化点。

·  全面支持多模光纤：支持850nm窗口的多模光纤测量，确保结果的准确性与可靠性。

·  芯片级高精度定制方案：针对前沿科研与高端制造可提供50米内200微米超高空间分辨率的定制型号，专攻850nm波段芯片级样品的精密测量。

FLA系列光纤链路分析仪通过本次850nm波段拓展，实现了从常规到特殊光纤链路测试需求的全覆盖。无论在通信工程、光器件生产制造，还是科研领域的高精度检测中，均能提供稳定、精准且高效的测量支持，持续为用户创造更高检测价值。