WIT 硅光晶圆测试探针台综合考虑稳定性、电噪声处理、空间布局等设计要求，采用精密运动控制系统，高性能隔振系统，结合自主研发图像软件算法，实现高稳定性小模斑芯片光性能和高精度电性能测试，能够满足高精密光测试指标以及pA/nA微信号测量应用...
CA系列硅光芯片自动耦合测试系统由亚微米级高精度移动平台、高性能隔振系统、多方位视觉检测系统构建而成。该系统采用自主研发上位机软件、融合图像识别及人工智能算法，实现自动对光、自动压接探针卡等操作，中间过程无需人工参与，大大提高测试效...
WI 自动晶圆缺陷检测系统由机器视觉检测系统、自动化上下料系统、自动化检测系统、控制软件组成，支持25个晶圆片（1个晶圆盒）的自动缺陷检测。该系统可检测出晶圆盒中的晶圆数量和位置，快速检测缺陷位置，提取缺陷图像，最后生成缺陷图，同时将结...
WAT 高功率晶圆测试系统设备部件国产化率高达90%以上。采用密闭腔体形式，将运动构件、制热构件、 制冷构件以及测试使用的晶圆卡盘、探针台、探针臂等部件集中在密闭腔体中，构建安全、稳定的功率器件晶圆级测试环境，满足高温、低温、高压、 高流...
