- 功能强大的64位数据采集和分析软件
- 单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能
- FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET
- FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析
- FRET、PIE-FRET
- 荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析
- 各向异性分析
- TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析
- 基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能
荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：
|
数据采集 |
|
|
可联用TCSPC模块 |
HydraHarp 400，PicoHarp 330，PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150 |
|
可联用荧光系统 |
MicroTime 200
激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 |
|
探测通道数量 |
1到 8 detectors |
|
采集模式 |
单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式
|
|
采集预览 |
FLIM, FCS, FLCS和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 |
|
自动化测量 |
Z轴逐层成像,定时成像,图片缝合,多点测量 |
|
硬件控制 |
PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente) MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200中宽视场荧光相机IDS uEye USB3 |
|
数据分析 |
|
|
总体特点 |
时间门控
TCSPC binning 最小平方拟合,最大可能性估算拟合,IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析 TCSPC曲线的全局化分析 图形化交互界面 |
|
成像 |
FLIM, FLIM-FRET,荧光强度FRET,各向异性成像, (时间门控)荧光强度成像
Pattern Matching,快速Pattern Matching |
|
相关分析 |
FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS |
|
FRET |
PIE (脉冲交错激发) |
|
STED |
STED,门控STED, STED-FLIM,交错脉冲 STED及共聚焦,分辨率估计 |
|
荧光强度Trace |
分子闪烁(On/Off柱状图),计数率柱状图 (PCH),爆发量柱状图,强度门控制TCSPC,荧光寿命 Traces,寿命柱状图, BIFL |
|
稳态各向异性 |
包含物镜校正系数 |
|
导出数据格式 |
BMP, ASCII, TIFF, BIN |
|
用户自定义脚本编译 (STUPSLANG) |
用户自定分析步骤,拟合功能,多条件筛选 |
|
电脑CPU规格要求 |
四核或更高 |
|
CPU主频 |
2.2 GHz (或更高)四核 CPU |
|
内存容量 |
最小4 GB (推荐16/32 GB) |
|
操作系统 |
Windows 10 x64 |
|
硬盘容量 |
>= 100 MB (不包括数据存储) |
|
显示器 |
Full HD Display |
|
加密方式(HASP) |
USB |
