日前，东隆科技发布了新升级的光纤微裂纹检测系统，又称OLI低成本光学链路诊断系统，它广泛用于光纤或光器件微裂纹检测。此次升级的核心是在保证测量时间、测量性能的情况下，其测量长度由6cm延伸到12cm，取得了突破性的进展。

OLI光纤微裂纹检测系统原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现小体积精密结构内部的微损伤检测。该系统可轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号。

随着光纤微裂纹检测系统（OLI）咨询量的提升，客户对我们产品兴趣愈加浓厚。为满足客户差异化需求，东隆科技不断优化产品性能，短时间内就将测量长度升级了一倍，致力为客户解决更多问题。

▪ 1μm采样分辨率

▪ -80dB动态范围

▪ 12cm测量长度

▪ 光纤微裂纹检测

▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

▪ FA光纤阵列链路性能检测

▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

此外，目前12cm的测量长度只是我们的阶段性成果，后续还会不断进行产品性能优化，争取突破更多可能。