聚焦于光通信器件测试服务解决方案的提供商——东隆科技重点推介OCI高分辨光学链路诊断仪，OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取高度集成性硅光链路任意位置的回损特性。
产品特点
•波长范围：
1525~1625 nm或1275~1345 nm
•空间分辨率：
10 μm@50 m、20 μm@100 m
•测量长度：100 m（可定制升级）
•自校准，无需人为干预，稳定性好
•可扩展分布式温度、应变测量
•支持软硬件定制，如网口通讯、远程控制和系统集成
产品应用
• 光器件、光模块测量
• 光纤长度精确测量
• 硅光芯片测量
• 光谱、群延时测量
测试案例
插入损耗测试
光纤链路通常包含多连接点、弯曲和多器件， OCI 特有的分布式高精度插损测量能力，可以快速准确地测量并定位链路各事件点的插损。
案例中用可调衰减器在衰减2 dB、3 dB、5 dB时重复测量 10次，插损测量重复性误差小于 0.1 dB。
回波损耗测试
硅光链路具有高度集成性，传统回损测试方案无法精确定位、测量硅光链路某一位置或器件回损特性。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取全链路任意位置的回损特性。
如图所示为平面波导延迟线。选取芯片中心0.2 m长度区域计算回损，其值为-57.95 dB。同样，研究人员也可通过OCI测量光纤与硅光芯片耦合点回波损耗来评估耦合效率。
光纤长度测量
OCI在50 m测量范围内空间分辨率为10 μm，非常适用于高精度光学延时测量领域，如光纤延时、硅光延时、空间光路延时以及迈克尔逊干涉仪的精准测量。
啁啾光栅光谱及延时测量
OCI采用扫频光源，覆盖C+L波段，根据气体吸收线定位波长，可以实现1pm光谱测量精度和1ps群延时测量精度。
以啁啾光栅为例，测量距离-反射率曲线、光谱及延时曲线，测量空间分辨率为10 μm。
根据延时曲线测量结果，可以计算出光栅的平均色散补偿系数为11.1979 ps/nm。
产品参数
备注：
1.长度可定制；
2.不同模式的测量时间不同；
3.可定制其他波段；
4.扩展功能为升级模块，需要单独购买；
5.实际测量值为延时，输入折射率可得到长度值；
6.高精度模式下获得；
7.温度测量范围取决于传感器。
