聚焦于光通信器件测试服务解决方案的提供商——武汉东隆科技有限公司重点推介OCI高分辨光学链路诊断仪，OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。
OCI高分辨率光纤微裂纹检测仪可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取高度集成性硅光链路任意位置的回损特性。
产品特点
•波长范围：
1525~1625 nm或1275~1345 nm
•空间分辨率：
10 μm@50 m、20 μm@100 m
•测量长度：100 m（可定制升级）
•自校准，无需人为干预，稳定性好
•可扩展分布式温度、应变测量
•支持软硬件定制，如网口通讯、远程控制和系统集成
产品应用
• 光器件、光模块测量
• 光纤长度精确测量
• 硅光芯片测量
• 光谱、群延时测量
光纤长度测量
OCI在50 m测量范围内空间分辨率为10 μm，非常适用于高精度光学延时测量领域，如光纤延时、硅光延时、空间光路延时以及迈克尔逊干涉仪的精准测量。
