东隆集团自研的光纤微裂纹检测仪(OLI)是以白光干涉为原理, 利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。其测试长度由最初的6cm已升级至1m，我们研发工程师在攻克横向测试长度升级的同时也在不断研究拓展纵向探测深度，现在光纤微裂纹检测仪(OLI)测试深度已由-80dB正式升级至-90dB。

图1.低成本光纤微裂纹检测仪(OLI)

下面我们用光纤微裂纹检测仪（OLI）测试波分复用器，OLI能明显测试出器件内部-90dB附近反射峰值。

图2.-90dB探测深度

本次，光纤微裂纹检测仪(OLI)测量深度从-80dB新升级到-90dB，采用全新的光路设计以及更换链路模块，完成这次-90dB测试深度升级，设备测试性能和稳定性都有所提升，因此光纤微裂纹检测仪(OLI)1m测试长度搭配-90dB的探测深度能更大程度满足客户测试所需。

光纤微裂纹检测仪又称低成本光学链路诊断系统(OLI)，该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-90dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

产品特点：

▪ 超高采样分辨率和定位精度

▪ 超宽动态范围

▪ 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境

▪ 可定制扫描测量长度

▪ 支持多通道测量升级

▪ 光纤微裂纹检测

▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

▪ FA光纤阵列链路性能检测

▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测