当前，AI技术的大规模应用加速推动了光模块需求的释放。相应的，针对高密度、稳定可靠的高速光互联技术迎来重大机遇和挑战。随着光模块速率越来越高，其内部光电互联结构越来越复杂，需要测量的参数逐渐变多，常规测量方法已逐渐不能满足全部测量需求。而高精度分布式的光频域测量技术将填补常规设备不能测到的参量空白，补全高速光互联、硅光芯片、光纤链路、耦合对接等各方面的测试标准和规范。

东隆集团自2017年推出第一台高分辨光学链路诊断系统OCI，经过多年打磨完善，尤其针对硅光互联，光纤、光波导等各种复杂的光链路均有很好测量效果，能够满足各种上下游客户的各种场景案例测量。目前，该款产品还开发了不同版本，以针对不同客户场景不同功能的选配，以便客户调整测试功能与成本，实现最佳购买性价比。

高分辨光学链路诊断系统OCI其事件点定位精度高达0.1mm，噪声灵敏度可达-130dB，波长重复精度±1pm，延时测量精度1ps。除此之外，该产品还能测试链路的光谱、插回损、距离、偏振、色散、延迟等相关光学参量，可广泛用于光器件、光纤、对接及耦合、硅光及波导等各种光通信测试场景。

OCI高分辨光学链路诊断仪

OCI检测高速光模块内部现在越来越多的光模块公司对基于OFDR技术测试硅光模块感到兴趣。随着市场容量越来越大，光互联技术的不断发展，新的案例、样品也将越来越复杂，测试标准也会逐步变高。相信使用OFDR技术对光通信产品做测试应用会成为未来热门的测试手段。

在9月11日-13日的CIOE 2024深圳光博会上，东隆科技将在10B29展台展示基于OFDR核心技术的光链路测量系列产品高分辨光学链路诊断系统OCI、低成本光学链路诊断系统OLI、光矢量分析仪OCI-V，期待您前往！