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超分辨-共聚焦-荧光寿命成像及图像处理高级研讨会

发布时间:2024-10-14阅读次数:2次

培训时间:2024年10月24日-25日(线下讲座+上机)

培训地点:清华大学生物医学馆E203

上机地点:清华大学生物医学馆U6-120/118

本次研讨会围绕超分辨STORM、超分辨共聚焦、荧光寿命和荧光相关光谱和图像处理与分析开展,欢迎老师和同学踊跃报名参加,并携带样品免费测试!

1、超分辨共聚焦AXR-NSPARC原理及应用,在AXR上升级了空间阵列超灵敏探测器,扩展了共聚焦成像潜能提升分辨率至100 nm,并提高了图像信噪比。

2、荧光寿命成像(FLIM)和荧光相关光谱(FCS)的原理及应用。拓展荧光成像新维度,并能实现和超分辨共聚焦联用。

3、 超分辨STORM成像-从样品制备到成像。STORM超分辨成像可实现20 nm超高分辨率,助力目标分子的高精度定位。

本次会议特邀南开大学物理学院潘雷霆教授详细讲授基于免疫荧光标记的超分辨成像样品无损/低损制备,欢迎报名参加!

培训日程:

时间

报告内容

主讲人

10月24日

9:30-9:45

细胞影像平台介绍

王文娟

细胞影像平台主管

9:45-10:30

超分辨共聚焦AXR-NSPARC原理和应用

李勋

尼康高级应用工程师

10:30-10:45

茶歇

10:45-11:30

荧光寿命成像、荧光相关光谱原理及应用

黄超

PicoQuant资深产品工程师

11:30-12:15

NIS-Element图像处理与分析

薛志红

尼康高级应用工程师

12:15-13:30

午餐

13:30-17:30

超分辨共聚焦AXR-NSPARC上机、NIS-Element图像处理上机

李勋、薛志红

尼康高级应用工程师

10月25日

9:30-10:30

基于免疫荧光标记的超分辨成像样品无损/低损制备

潘雷霆教授 特邀专家

南开大学

10:30-10:45

茶歇

10:45-11:30

FLIM & FCS - How this techniques help you to get more information out of your sample

Dr. Fabian Jolmes
PicoQuant

11:30-12:15

超高分辨率Storm原理及应用

李勋

尼康高级应用工程师

12:15-13:30

午餐

13:30-17:30

荧光寿命成像荧光相关光谱(FLIM-FCS)上机

黄超

PicoQuant资深产品工程师

超高分辨率STORM样本制备及超分辨上机

潘雷霆教授 特邀专家

南开大学

李勋

尼康高级应用工程师

报名方式:

★ 复制链接:http://imagingcorefacility.mikecrm.com/TG6BJpX

★ 请扫描二维码报名:

截止时间:2024年10月23日12:00

★ 报名中如遇任何问题,请随时联系我们:

电话:010-62772736/62783170

邮箱:imagingfacility@mail.tsinghua.edu.cn

★ 报名成功者,现场可领取精美小礼品一份(先到先得,数量有限)。


主办单位:

清华大学蛋白质研究技术中心细胞影像平台

协办单位:

德国PicoQuant有限公司

武汉东隆科技有限公司

尼康精机(上海)有限公司北京分公司

北京恒三江仪器销售有限公司

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