- 基于倒置显微镜的完整共聚焦STED系统
- 光学分辨率低于50nm
- 640nm激发,595nm和660nm附加可选
- 支持门控STED(gSTED)和gSTED-FCS
- 压电平移台,用于2D,3D寿命成像和精确定位
- 匹配有高级版易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64
- AFM/FLIM/STED联用的独特升级
- 支持MicroTime 200可用的所有其他手段,即FLIM、FCS、FCCS、FLCS、FRET等
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FLIMbee 振镜扫描附件,具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度
- 可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量