您现在的位置:首页 - 产品分类 - 芯片制程
  • 高功率晶圆测试系统采用密闭腔体形式,将运动构件、制热构件、制冷构件以及测试使用的晶圆卡盘、探针台、探针壁等部件集 中在密闭腔体中,构建安全、稳定的功率器件晶圆级测试环境,满足高温、低温、高压、高流等极端条件的安全测试要求,保护器 ...

    查看详情

    高功率晶圆测试系统
  • OCI1300、OCI1500都是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI1300、OCI1500都可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定...

    查看详情

    高分辨光学链路诊断仪OCI
  • OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特...

    查看详情

    光矢量分析仪OCI-V
顶部