- 空间分辨率：20μm
- 测量长度：50m
- 中心波长：1310nm/1550nm
- 插损、回损分析
LGA50光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。
|
类别 |
指标 |
单位 |
|
|
测量长度1 |
50 |
m |
|
|
空间分辨率2 |
20 |
μm |
|
|
中心波长3 |
1310/1550 |
nm |
|
|
波长精度 |
1.0 |
pm |
|
|
回损动态范围 |
70 |
dB |
|
|
回损测量范围 |
-130~0 |
dB |
|
|
回损灵敏度 |
-130 |
dB |
|
|
回损测量精度 |
±0.5 |
dB |
|
|
回损分辨率 |
±0.05 |
dB |
|
|
插损动态范围4 |
15 |
dB |
|
|
插损测量精度 |
±0.2 |
dB |
|
|
测量时间 |
＜8 |
s |
|
|
输入电压 |
AC 220/110V; DC 12V |
- |
|
|
主机功率 |
60 |
W |
|
|
通讯接口 |
USB |
- |
|
|
光纤接口 |
FC/APC |
- |
|
|
尺寸 |
W345*D390*H165 |
mm |
|
|
重量 |
7.5 |
kg |
|
|
储存温度 |
0~50 |
℃ |
|
|
工作温度 |
10~40 |
℃ |
|
|
储存与工作湿度 |
10~70 |
%RH |
|
|
选配功能5 |
|||
|
采集频率 |
5Hz@(20m,42nm) |
15Hz@(20m,10nm) |
- |
备注：
