- 空间分辨率：20μm
- 测量长度：50m
- 中心波长：1550nm
- 插损、回损分析
LGA50光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。
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类别 |
指标 |
单位 |
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测量长度1 |
50 |
m |
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空间分辨率2 |
20 |
μm |
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波长扫描范围 |
40 |
nm |
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中心波长 |
1550 |
nm |
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波长精度 |
1.0 |
pm |
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回损动态范围 |
65 |
dB |
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回损测量范围 |
-130~0 |
dB |
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回损灵敏度 |
-130 |
dB |
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回损测量精度 |
±0.5 |
dB |
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回损分辨率 |
±0.05 |
dB |
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插损动态范围3 |
13 |
dB |
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插损测量精度 |
±0.5 |
dB |
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输入电压 |
AC 220/110V; DC 12V |
- |
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主机功率 |
60 |
W |
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通讯接口 |
USB |
- |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储藏温度 |
0~50 |
℃ |
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工作温度 |
10~40 |
℃ |
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工作湿度 |
10~90 |
%RH |
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扩展功能4 |
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采集频率 |
5Hz@(20m,42nm) |
15Hz@(20m,10nm) |
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备注：
