低成本光学链路诊断系统OLI

低成本光学链路诊断系统OLI

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术,利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗,进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达1μm,最低可探测到-100dB光学弱信号,广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

产品特点
  • 可定制扫描测量长度
  • 支持多通道测量升级
  • 高采样分辨率和定位精度
  • 可定制引纤长度,便于匹配实际测量环境

主要应用
  • 光纤微裂纹检测
  • 产线自动化检测
  • FA光纤阵列链路性能检测
  • 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
  • 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
参数

主要参数

基础参数

工作波长

1290~1330/1530~1570

nm

测量长度1

12       45      90

cm

采样分辨率

1

μm

定位精度

0.3

mm

测量时间2

1~15

s

回损测量范围

-10~-100

dB

回损重复精度

±3

dB

硬件

输入电压

AC 220/110V;DC 12V

-

主机功率

60

w

通讯接口

USB

-

引纤长度3

5

m

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

W 345 * D 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

储存温度

0~50

工作温度

0~40

储存与工作湿度

10~70

%RH

备注:

1.测量长度指设备最大测量长度,在该最大测量长度内可任意选择测量区间段;

2.测量时间与测试长度相关,可任意选择扫描长度,测量时间1s@2cm、15s@90cm;

3.标准版引纤长度为5m,可定制其他长度。

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