- 分布式测量保偏器件串扰
- 高采样分辨率和定位精度
- 灵敏度高、测量动态范围大
- 测量时间短
OLI-P 是基于白光干涉的分布式偏振串扰测试分析仪 ，采样分辨率优 于2cm ， 噪声灵敏度最低可达-90dB。设备可高精度测量保偏光纤环、Y波 导芯片等器件的分布式偏振串扰。通过偏振串扰测试 ，精准定位保偏光路 中异常串扰点位置、分析连接头或耦合端面质量、测量保偏器件芯片的偏振消光比等。该产品可用于产品工艺设计改进或产线批量检测。
对保偏光纤环进行全长度的分布式串扰测量 ，精准定位环内异常串扰点 ，评估光纤环的整体偏振性能 ，为光纤环的生产工艺优化、质量控制以及故障排查提供有力支持 ，确保光纤环在实际应用中的稳定性和可靠性。
精确测量 Y 波导芯片等波导器件的偏振消光比和双折射特性 ，分析波导结构对偏振光的调控能力 ，为波导芯片的设计改进、性能提升以及质 量检测提供关键数据 ，推动光电子器件技术的发展与创新。
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主要参数 |
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基础参数 |
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工作波长 |
1290 ~ 1330 /1530~1570 |
nm |
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测量长度¹ |
>1.4 |
km |
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采样分辨率² |
＜2 |
cm |
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串扰重复性 |
±1 |
dB |
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事件点分辨率 |
20 |
cm |
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测量时间³ |
＜15 |
s |
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串扰测量动态范围 |
75 |
dB |
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噪声灵敏度⁴ |
-90 |
dB |
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硬件 |
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输入电压 |
AC 220/110V；DC 12V |
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主机功率 |
60 |
W |
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通讯接口 |
USB |
- |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储存温度 |
0 ~ 50 |
℃ |
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工作温度 |
0 ~ 40 |
℃ |
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储存与工作湿度 |
10 ~ 70 |
%RH |
备注：
1. 光纤线性双折射按Δn=5×10-4计
2. 光纤线性双折射按Δn=5×10-4 ，设备可设置的最大采样分辨率
3. 设备满量程测量时，测量时间小于14s
4. -90dB指最大串扰峰低于-70dB时噪声水平（底噪平均值）
