WI-6500AL全自动晶圆缺陷检测系统由自动化上下料系统、视觉检测系统、控制软件等组成，支持25片晶圆的自动缺陷检测。该系统可检测晶圆盒中晶圆数量和位置，快速定位缺陷位置，提取缺陷图像，判别缺陷类型，并将结果存储在生产线系统数据库中。本产...
NovoViz NV07SLN-DEV专为需要低时间抖动的单光子线阵探测器的应用场景而设计。该设备无需任何外部阈值电路，并且为每个像素都提供异步数字输出。累积的计数数据通过单根 USB 接口读取，该接口同时也为设备供电。这款传感器完美结合了单光子雪崩二极...
Spectral FLIM (sFLIM) 是一种结合光谱分辨和荧光寿命信息的成像方法。由于各种技术的提升，使sFLIM成为了一种快速、通用且灵敏的检测手段。其中一项重大的技术改进是使用 16 通道光谱荧光寿命成像探测器。该探测阵列中包含16个配备了GaAsP阴极的PM...
