LGA50光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。...
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OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特...
