LGA-L是一款高精度光纤长度测量系统，主要用于测量光学链路的时延和长度。其原理基于光频域反射技术（OFDR），长度测量范围100m，可选200m、500m，测量精度达mm量级。支持系统定制，为客户提供全方位的解决方案。...
OCI1302/1502是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（ OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI1302 采用外置激光器，与设备Laser端连接，实现分体式测量，OCI1302可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，...
LGA50光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。...
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特...
